一种DEPP多功能测试治具

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202021861373.5
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2020-08-31
申请人：
苏州盛富银电子科技有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种DEPP多功能测试治具
申请号	CN202021861373.5	申请日期	2020-08-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	苏州盛富银电子科技有限公司	申请人地址	江苏省苏州市相城区黄埭镇东桥爱民路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州盛富银电子科技有限公司	当前权利人	苏州盛富银电子科技有限公司
发明人	高明贵
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种DEPP多功能测试治具，包括底座，所述底座的顶部分别焊接有两个支撑板，两个所述支撑板的外侧壁分别通过螺栓螺纹连接有固定块，所述固定块在远离所述支撑板的一侧固定连接有连接块，所述连接块的一端铰接有支撑杆，所述支撑杆的底部固定连接有连接板，所述连接板的顶部通过螺栓螺纹连接有压板，所述针板的底部四角分别滑动连接有滑杆，所述滑杆的底部焊接于所述底座的顶部，所述针板的顶部均匀开设有通孔，所述通孔的内部滑动连接有探针，所述探针在远离所述通孔的一端焊接于所述底座的顶部，通过简单的结构之间的配合，且两组不同测试组件在测试时能提高测试时效率同时适用于不同的测试物。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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