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分析和识别制造零件中的缺陷的系统及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200410063633.3
IPC分类号：G01N21/95;G01N21/84
申请日期：
2004-07-09
申请人：
通用电气公司

基础信息

权利要求

说明书

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	分析和识别制造零件中的缺陷的系统及方法
申请号	CN200410063633.3	申请日期	2004-07-09
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2005-02-09	公开/公告号	CN1576829
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/95 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;;;G;0;1;N;2;1;/;8;4查看分类表>
申请人	通用电气公司	申请人地址	美国纽约州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	通用电气公司	当前权利人	通用电气公司
发明人	S·T·尚卡拉帕;G·A·莫尔;M·S·迪内斯;B·W·拉休克;R·C·麦克法兰;E·L·迪克松
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	张志醒

摘要

一种用于识别被检测零件中的缺陷的系统和方法包括生成该零件的三维表示，这种三维表示包括对应于零件上不同位置的三维空间坐标，并且使三维空间坐标与被检测零件的对应位置对齐。生成被检测零件的图像，以及从生成图像中识别被检测零件中的缺陷。缺陷的位置与相应的三维空间坐标相关，以及控制某个装置利用相应三维空间坐标的信息在缺陷位置上对被检测零件执行操作。

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