一种手机硬件功能老化测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201711347582.0
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2017-12-15
申请人：
广安市华格科技有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种手机硬件功能老化测试装置
申请号	CN201711347582.0	申请日期	2017-12-15
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2019-06-25	公开/公告号	CN109932577A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	广安市华格科技有限公司	申请人地址	四川省广安市广安区金安大道二段303号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广安市华格科技有限公司	当前权利人	广安市华格科技有限公司
发明人	肖小斌
代理机构	成都知集市专利代理事务所（普通合伙）	代理人	杨欣宇

摘要

本发明涉及一种手机硬件功能老化测试装置，包括固定手机的夹持组件和手机侧键测试组件，其特征在于所述的手机按键测试组件包括第一电机、受第一电机驱动的转动部件和用于点击手机侧键的点击杆，所述的转动部件的前端具有一个倾斜接触面，点击杆的A端与该倾斜接触面联接，第一电机转动时，点击杆在转动部件的作用下作往复直线移动，其优点是点击行程较短，点击速度快，点击效率高；电机转动需要的电量较少，发热量小，能够进行长时间不间断的工作，使用寿命长；通过调整倾斜接触面的倾斜度以及高度就能够实现控制点击行程和点击力度，适应不同手机的按键的测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供