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一种超薄高稳定性磁片制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010441877.X
  • IPC分类号:H01F41/02;H05K9/00
  • 申请日期:
    2020-05-22
  • 申请人:
    上海万兹新材料科技有限公司
著录项信息
专利名称一种超薄高稳定性磁片制备方法
申请号CN202010441877.X申请日期2020-05-22
法律状态实质审查申报国家暂无
公开/公告日2020-08-21公开/公告号CN111564304A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01F41/02IPC分类号H;0;1;F;4;1;/;0;2;;;H;0;5;K;9;/;0;0查看分类表>
申请人上海万兹新材料科技有限公司申请人地址
上海市崇明区新河镇滨江路78号11幢2层A区 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海万兹新材料科技有限公司当前权利人上海万兹新材料科技有限公司
发明人周昊平
代理机构上海海贝律师事务所代理人范海燕
摘要
本发明公开了一种超薄高稳定性磁片制备方法,包括如下步骤1)磁性材料进行卷绕分切处理,2)磁性材料进行退火处理,3)将退火后的材料进行单面覆胶处理,得到第一磁性层,4)进行碎化处理,5)碎化处理后进行模切成型处理,得到指定外观尺寸的成品,所述碎化处理的方式为进行二次辊压,得到指定性能磁片,所述磁性材料进行卷绕分切处理之前进行表面预处理,所述步骤3)和4)之间还包括将第一磁性层进行多层贴合处理,得到第二磁性层。本发明,通过先碎后退火的预处理碎化方式能保证每层磁材都能最大化地得到碎化,且碎化颗粒均匀,磁片一致性好,磁片表面光滑平整,外观良率和性能良率高。

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