基于超长周期光纤光栅的温度自补偿折射率测量方法及器件

发明专利无效专利

申请号：
CN200510057409.8
IPC分类号：G01N21/41
申请日期：
2005-11-28
申请人：
重庆大学

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著录项信息

专利名称	基于超长周期光纤光栅的温度自补偿折射率测量方法及器件
申请号	CN200510057409.8	申请日期	2005-11-28
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-08-30	公开/公告号	CN1825090
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/41 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/41 折射率；影响相位的性质，例如光程长度（G01N 21/21优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;1查看分类表>
申请人	重庆大学	申请人地址	重庆市沙坪坝区沙正街174号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆大学	当前权利人	重庆大学
发明人	朱涛;饶云江;莫秋菊
代理机构	重庆华科专利事务所	代理人	康海燕

摘要

本发明了提出一种基于超长周期光纤光栅的温度自补偿液体折射率测量方法，它利用横向折变非对称的超长周期光纤光栅为核心测量器件，先由超长周期光纤光栅的高阶谐振峰测量待测液体的环境温度变化，再由低阶谐振峰测量液体的温度和折射率的共同变化，最后利用高阶谐振峰的温度测量结果对低阶谐振峰的测量结果进行校正，从而实现对不同温度条件下液体折射率的准确测量。本发明还提出了一种折射率测量器，由超长周期光纤光栅和折射率小于其光纤包层的基板构成；光栅被拉直置于基板上的槽内，并保证待测液体滴入槽内能够完全环绕光栅。本发明可以实现温度自补偿折射率测量，测量灵敏度高，结构简单，成本低廉，插入损耗小，可应用于恶劣的工业环境。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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