应用FPGA的嵌入式实时操作系统时间性能测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201811265805.3
IPC分类号：G06F11/36
申请日期：
2018-10-29
申请人：
北京京航计算通讯研究所

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著录项信息

专利名称	应用FPGA的嵌入式实时操作系统时间性能测试方法
申请号	CN201811265805.3	申请日期	2018-10-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-02-15	公开/公告号	CN109344078A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/36 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/36 通过软件的测试或调试防止错误〔7〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;3;6查看分类表>
申请人	北京京航计算通讯研究所	申请人地址	北京市丰台区云岗北区西里一号院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京京航计算通讯研究所	当前权利人	北京京航计算通讯研究所
发明人	刘博;闫腾;杨艳丹;盛凯南;王洋;王欣;宋志强;陈建任;韩强;何霄霏;李显坤;王一晶;刘胤龙;王婷婷
代理机构	中国兵器工业集团公司专利中心	代理人	暂无

摘要

本发明属于软件测评技术领域，具体涉及一种应用FPGA的嵌入式实时操作系统时间性能测试方法。为准确测量嵌入式实时操作系统的时间性能指标，本发明提供了一种嵌入式操作系统时间性能测量方法，包括步骤FPGA触发激励信号及测量参数配置，目标机上时间性能测试程序运行，FPGA接收响应信号，FPGA计算时间间隔，时间间隔数据存储和数据据转发至上位机，上位机进行时间性能分析。本发明技术方案采用FPGA测量与目标机测试功能相结合的测试方法，将计时功能与外部激励由FPGA实现，减少测试程序中的系统调用，减小信号延迟时间，提高了嵌入式实时操作系统时间性能测试的灵活性。

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