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相位误差探测方法、装置、磁共振系统及其成像方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010258142.3
  • IPC分类号:G01R33/565G01R33/48
  • 申请日期:
    2020-04-03
  • 申请人:
    上海联影医疗科技股份有限公司
著录项信息
专利名称相位误差探测方法、装置、磁共振系统及其成像方法
申请号CN202010258142.3申请日期2020-04-03
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-10-12公开/公告号CN113495242A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R33/565IPC分类号G01R33/565;G01R33/48查看分类表>
申请人上海联影医疗科技股份有限公司申请人地址
上海市嘉定区城北路22*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海联影医疗科技股份有限公司当前权利人上海联影医疗科技股份有限公司
发明人温林飞
代理机构北京华进京联知识产权代理有限公司代理人张书涛
摘要
本申请涉及一种相位误差探测方法、装置、磁共振系统及其成像方法。所述相位误差探测方法包括:对检测对象施加第一测试序列,以获取第一相位信息,所述第一测试序列包括待测试梯度模块和射频脉冲,所述待测试梯度模块包括至少两个极性相反的梯度单元,其中,正向的梯度单元伴随射频脉冲;对所述检测对象施加第二测试序列,以获取第二相位信息,所述第二测试序列包括所述待测试梯度模块和射频脉冲,其中,负向的梯度单元伴随射频脉冲;根据所述第一相位信息和所述第二相位信息,计算所述待测试梯度模块对应的相位误差。本申请提供一种新的相位误差探测方法,能够准确探测涡流相位误差。

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