物体检测装置及信息获取装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201180027926.4
IPC分类号：G01B11/00;G01M11/00;G02B5/18
申请日期：
2011-05-17
申请人：
三洋电机株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	物体检测装置及信息获取装置
申请号	CN201180027926.4	申请日期	2011-05-17
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-02-13	公开/公告号	CN102933934A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;M;1;1;/;0;0;;;G;0;2;B;5;/;1;8查看分类表>
申请人	三洋电机株式会社	申请人地址	日本国大阪府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三洋电机株式会社	当前权利人	三洋电机株式会社
发明人	楳田胜美;森本高明
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	樊建中

摘要

本发明提供一种信息获取装置及搭载该信息获取装置的物体检测装置。信息获取装置(1)具备射出波长为830nm左右的激光的激光光源(111)、偏振光束分光器(PBS)(113)、1/4波长板(114)、DOE(116)和PD(117)。DOE(116)以规定光点图形向目标区域照射激光。PD(117)接受由DOE(116)衍射及反射后的激光的一部分。由此，以紧凑的构成就能够检测衍射光学元件的劣化。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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