加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

PCB逐层对位镭射钻孔的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210197329.2
  • IPC分类号:H05K3/00;H05K3/40;B23K26/382
  • 申请日期:
    2012-06-14
  • 申请人:
    广州美维电子有限公司
著录项信息
专利名称PCB逐层对位镭射钻孔的方法
申请号CN201210197329.2申请日期2012-06-14
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-10-03公开/公告号CN102711382A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H05K3/00IPC分类号H;0;5;K;3;/;0;0;;;H;0;5;K;3;/;4;0;;;B;2;3;K;2;6;/;3;8;2查看分类表>
申请人广州美维电子有限公司申请人地址
广东省广州市高新技术产业开发区科学城新乐路一号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人广州美维电子有限公司当前权利人广州美维电子有限公司
发明人胡翠儿;姚晓建
代理机构广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)代理人汤喜友
摘要
本发明涉及PCB逐层对位镭射钻孔的方法,其包括以下步骤:在相对的次层电路板上制作标靶;将覆盖在所述标靶上的铜层去除,或者将覆盖在所述标靶上的铜层和树脂层同时去除,显露出标靶进行对位;激光直接钻盲孔。本发明可有效解决盲孔对内层偏孔的问题。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供