数字化光轴的高精度复现装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202011486355.8
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2020-12-16
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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著录项信息

专利名称	数字化光轴的高精度复现装置
申请号	CN202011486355.8	申请日期	2020-12-16
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-30	公开/公告号	CN112729777A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	上海市嘉定区清河路390号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人	姜有恩;周丽;庞向阳;吕凤年;李学春;朱健强
代理机构	上海恒慧知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	张宁展

摘要

一种数字化光轴的高精度复现装置，包括：基准点标定机构、激光器、小孔板、第一对准板、第二对准板、高精度坐标约束机构和光场成像分析装置。本发明通过高精度约束三个数字化光轴基准点的三维空间坐标，确保模拟光束高精度穿过数字化光轴基准点，所得到的实体化光轴复现精度高、误差可测，并且复现装置易于操作、重复性好、稳定性高，可用于数字化的坐标网络体系下各类光机组件的装调和装置的集成。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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