一种高低温环境下的五轴测试台

发明专利无效专利

申请号：
CN200810018221.6
IPC分类号：G01M11/00;G01M19/00
申请日期：
2008-05-16
申请人：
西安理工大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种高低温环境下的五轴测试台
申请号	CN200810018221.6	申请日期	2008-05-16
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-10-08	公开/公告号	CN101281090
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0;;;G;0;1;M;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	西安理工大学	申请人地址	陕西省西安市金花南路5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安理工大学	当前权利人	西安理工大学
发明人	姜明;姜斯亮;杨光雄;吕延军
代理机构	西安弘理专利事务所	代理人	罗笛

摘要

本发明公开了一种高低温环境下的五轴测试台，包括设置在机架上的水平的X-Y轴定位板，定位板上设置有方箱，在方箱中安装有Z轴装置，Z轴装置与方箱之间设置有Z轴调整和定位结构，在Z轴装置的上端面上设置有α轴的调整和定位结构，在α轴的调整和定位结构上设置有β轴的调整和定位结构；在机架上设置有工装。本发明的测试台，无论是支撑部件还是定位元件，都使用同一种材料制作。本发明的测试台结构简单，调整及操作方便，定位误差符合要求，测量精度高、制作成本低，完全满足了实验测量的需要。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN101034034A	2007-09-12	2007-01-31	非球面镜衍射图像检测方法与装置失效专利	中国人民解放军国防科学技术大学
2	CN1760658A	2006-04-19	2005-11-10	用于汽车换档器总成性能测试的五自由度安装装置失效专利	上海大学
3	CN1275063C	2005-03-16	2004-07-09	五自由度激光聚焦透镜调整架失效专利	中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
4	CN1952640A	2007-04-25	2006-11-03	中心对称材料微纳结构器件倍频转换效率测试装置失效专利	中国科学院光电技术研究所
5	CN1963434A	2007-05-16	2006-12-13	光纤变换引入中心对称材料微纳结构倍频转换效率测试装置失效专利	中国科学院光电技术研究所
6	CN1588556A	2005-03-02	2004-07-30	五自由度精密定位平台无效专利	中国科学院上海光学精密机械研究所
7	CN200962162Y	暂无	2006-09-28	五维调节机构失效专利	中国工程物理研究院激光聚变研究中心

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN103115591A	2013-01-18	2013-01-18	一种用于检测货运X射线安全检查设备的测试装置失效专利	中国民航科学技术研究院

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