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光纤变换引入中心对称材料微纳结构倍频转换率测试装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200610165086.9
  • IPC分类号:G01M11/00;G01J1/00;G01J1/42;G02F1/35
  • 申请日期:
    2006-12-13
  • 申请人:
    中国科学院光电技术研究所
著录项信息
专利名称光纤变换引入中心对称材料微纳结构倍频转换率测试装置
申请号CN200610165086.9申请日期2006-12-13
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2007-05-16公开/公告号CN1963434
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/00IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;0;;;G;0;1;J;1;/;0;0;;;G;0;1;J;1;/;4;2;;;G;0;2;F;1;/;3;5查看分类表>
申请人中国科学院光电技术研究所申请人地址
四川省成都市双流350信箱 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院光电技术研究所当前权利人中国科学院光电技术研究所
发明人李海颖;陈旭南
代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司代理人贾玉忠;卢纪
摘要
光纤变换引入中心对称材料微纳结构倍频转换率测试装置由激光器、聚焦镜、光纤光束变换系统、对准显微镜、承载样品台、水平旋转台、多自由度调整台、倍频光滤光片、激光功率计和大平台组成,激光器射出的激光通过聚焦镜和变换光纤,由对准显微镜观察经水平旋转台和多自由度调整台调整对准射入被测样品,经被测样品倍频后的倍频光,被激光功率计接收并测量显示出倍频光的光强值,再与未放置被测样品和出射光滤光片时检测的光强值相比,可得到倍频转换效率。被测样品的位置由多自由度调整台和水平旋转台迅速调整,调整方便,易于应用。

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