一种集成电路测试板

发明专利有效专利

申请号：
CN202110859335.9
IPC分类号：G01R31/28;G01R1/04
申请日期：
2021-07-28
申请人：
孙瑞

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种集成电路测试板
申请号	CN202110859335.9	申请日期	2021-07-28
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-12	公开/公告号	CN113640646A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	孙瑞	申请人地址	福建省泉州市惠安县城北高新工业园区工业路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	孙瑞	当前权利人	孙瑞
发明人	孙瑞
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种集成电路测试板，其结构包括托盘、顶盖、套槽、旋转把手、底座，托盘上设置有套槽，且通过旋转把手转动配合在底座上，顶盖安装在套槽上，套槽包括架体、推座、夹具、纠偏组件、扣齿，架体通过旋转把手与夹具间接配合，且连接有推座，推座连接有扣齿，扣齿与纠偏组件间接配合，在纠偏组件上设置有拉举结构和侧夹装置，利用拉举结构和侧夹装置在调节格内相配合，当芯片一侧倾斜脱离与套槽内侧的测试位置时，另一侧将会滑动挤压拉举结构靠近调节格底部的弯折处，使得拉举结构配合侧夹装置带动芯片同侧下降延展，增大接触面积，有效对其进行稳固的夹持。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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