发光二极管寿命试验装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200710196274.2
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2007-12-07
申请人：
财团法人工业技术研究院

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著录项信息

专利名称	发光二极管寿命试验装置及方法
申请号	CN200710196274.2	申请日期	2007-12-07
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2009-06-10	公开/公告号	CN101452044
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	财团法人工业技术研究院	申请人地址	中国台湾新竹县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	财团法人工业技术研究院	当前权利人	财团法人工业技术研究院
发明人	陈秋伶;黄胜邦;黄斐章
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	王志森

摘要

一种寿命试验装置，包括炉体、电流源、电压计、控制模块、及处理模块。炉体内供放置发光二极管。其中，炉体在第一期间内逐渐地改变炉温，在第二期间内维持炉温在设定炉温。电流源提供发光二极管第一电流和第二电流。电压计用来测量发光二极管的正向电压。控制模块控制电流源输出第一电流或第二电流给发光二极管，且控制电压计测量发光二极管该正向电压。处理模块根据发光二极管的正向电压、发光二极管的正向电压与该炉温的一变动关系式以计算发光二极管的结温度。

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