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用于对测量设备的电位传感器在过程中进行校准的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201911279918.3
  • IPC分类号:G01R35/00;G01N27/00
  • 申请日期:
    2019-12-13
  • 申请人:
    恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
著录项信息
专利名称用于对测量设备的电位传感器在过程中进行校准的方法
申请号CN201911279918.3申请日期2019-12-13
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2020-06-30公开/公告号CN111352058A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R35/00IPC分类号G;0;1;R;3;5;/;0;0;;;G;0;1;N;2;7;/;0;0查看分类表>
申请人恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司申请人地址
德国盖林根 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司当前权利人恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
发明人菲利普·罗特;尤利娅·米尔德纳
代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司代理人杨靖;韩毅
摘要
用于对测量设备的电位传感器在过程中进行校准的方法,其中,电位传感器沉入具有第一过程介质的容器或管线路系统中,第一过程介质具有已知的体积和成分,测量设备至少具有测量运行模式和校准运行模式,其中,a)电位传感器在校准运行模式中检测pK值变化,pK值变化通过以下过程变化之一导致i添加已知的体积和成分的第二过程介质;ii温度变化,和/或iii压力变化;b)测量设备的评估单元根据b1在环境条件已知的情况下结合第一和第二过程介质的体积或温度变化或压力变化进行的pK值计算;和/或b2在较早的时间点通过将第二过程介质添加给第一过程介质来进行的pK值获知来获知额定值;并且c)校准电位传感器,使得测量值匹配于获知的额定值。

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