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一种逻辑测试的功能覆盖率分析方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200510035490.X
  • IPC分类号:G06F11/36
  • 申请日期:
    2005-06-21
  • 申请人:
    华为技术有限公司
著录项信息
专利名称一种逻辑测试的功能覆盖率分析方法
申请号CN200510035490.X申请日期2005-06-21
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2006-12-27公开/公告号CN1885273
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/36IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;3;6查看分类表>
申请人华为技术有限公司申请人地址
广东省深圳市龙岗区布吉坂田华为总部办公楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华为技术有限公司当前权利人华为技术有限公司
发明人麻远声
代理机构深圳市顺天达专利商标代理有限公司代理人郭伟刚;蔡晓红
摘要
一种逻辑测试的功能覆盖率分析方法,包括如下步骤:(a)在参考模型中相应的功能分支上插入“探针”;(b)在测试用例的测试过程中执行到“探针”时,调用统计函数把该探针的描述信息记录到统计表中;(c)在当前用例执行完毕后,把统计表的记录有当前测试用例所覆盖的功能分支的记录信息打印到该测试用例的日志文件中;(d)在所有测试用例测试完毕后,依次打开每个测试用例的日志文件,汇总所有测试用例的功能分支的覆盖信息,生成“已测功能分支统计表”;(e)扫描参考模型代码,生成探测点树;(f)比较该“已测功能分支统计表”及该探测点树,获取功能覆盖率信息。本发明的逻辑测试功能覆盖率分析方法,具有操作简单、获得的信息更加可靠及测试点的增删、变更更加灵活的优点。

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