等离子体溅射成膜方法和成膜装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200580035907.0
IPC分类号：C23C14/34;H01L21/3205;C23C14/14;H01L23/52;H01L21/285
申请日期：
2005-10-18
申请人：
东京毅力科创株式会社

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著录项信息

专利名称	等离子体溅射成膜方法和成膜装置
申请号	CN200580035907.0	申请日期	2005-10-18
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-09-26	公开/公告号	CN101044259
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	C23C14/34 ? IPC结构图谱： C 化学；冶金 C2 冶金 C23 对金属材料的镀覆；用金属材料对材料的镀覆；表面化学处理；金属材料的扩散处理；真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆；金属材料腐蚀或积垢的一般抑制〔2〕 C23C 对金属材料的镀覆；用金属材料对材料的镀覆；表面扩散法，化学转化或置换法的金属材料表面处理；真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆（挤压法制造包覆金属的产品入B21C23/22；通过将预先存在的薄层连接到制品上的方法用金属进行镀覆处理的见各有关位置，例如B21D39/00，B23K；玻璃的金属化入C03C；砂浆、混凝土、人造石、陶瓷或天然石的金属化入C04B41/00；金属的搪瓷或向金属上镀覆玻璃体层入c23D；用电解法或电泳法处理金属表面或镀覆金属入C25D；单晶膜生长入C30B；纺织品的金属化入D06M11/83；用局部金属化法装饰纺织品入D06Q1/04）〔4〕 C23C14/00 通过覆层形成材料的真空蒸发、溅射或离子注入进行镀覆〔4，2006.01〕 C23C14/22 以镀覆工艺为特征的〔4〕 C23C14/34 溅射〔4〕	IPC分类号	C;2;3;C;1;4;/;3;4;;;H;0;1;L;2;1;/;3;2;0;5;;;C;2;3;C;1;4;/;1;4;;;H;0;1;L;2;3;/;5;2;;;H;0;1;L;2;1;/;2;8;5查看分类表>
申请人	东京毅力科创株式会社	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	东京毅力科创株式会社	当前权利人	东京毅力科创株式会社
发明人	铃木健二;池田太郎;波多野达夫;水泽宁
代理机构	北京尚诚知识产权代理有限公司	代理人	龙淳

摘要

本发明提供一种利用等离子体使金属靶(56)离子化，产生金属离子，利用偏置电力将金属离子引入到在处理容器内的载置台(20)上载置的被处理体(S)，使金属膜(74)沉积在形成有凹部(2)的被处理体上以填充凹部的方法。设定偏置电力，使得在被处理体表面，因金属离子的引入而产生的金属沉积速率和等离子体溅射蚀刻的蚀刻速率大致均衡。由此，能够向被处理体的凹部填充金属，而不会产生空隙等缺陷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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