用于清洁测试器接口的接触元件和支持硬件的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410828177.0
IPC分类号：B08B1/00;B08B7/00;B24B19/16
申请日期：
2010-12-03
申请人：
国际测试解决方案有限公司;布雷特·A·汉弗里;詹姆斯·H·杜瓦尔

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专利名称	用于清洁测试器接口的接触元件和支持硬件的方法
申请号	CN201410828177.0	申请日期	2010-12-03
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-06-03	公开/公告号	CN104668218A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	B08B1/00 ? IPC结构图谱： B 作业；运输 B0 分离；混合 B08 清洁 B08B 一般清洁；一般污垢的防除（刷子入A46；家庭或类似清洁装置入A47L；颗粒从液体或气体中分离入B01D；固体分离入B03，B07；一般对表面喷射或涂敷液体或其他流体材料入B05；用于输送机的清洗装置入B65G 45/10；对瓶子同时进行清洗、灌注和封装的入B67C 7/00；一般腐蚀或积垢的防止入C23；街道、永久性道路、海滨或陆地的清洗入E01H；专门用于游泳池或仿海滨浴场浅水池或池子的部件、零件或辅助设备清洁的入E04H 4/16；防止或清除静电荷入H05F） B08B1/00 利用工具，刷子或类似工具的清洁方法（B08B 3/12，B08B 6/00，B08B 9/00优先）〔2〕	IPC分类号	B;0;8;B;1;/;0;0;;;B;0;8;B;7;/;0;0;;;B;2;4;B;1;9;/;1;6查看分类表>
申请人	国际测试解决方案有限公司;布雷特·A·汉弗里;詹姆斯·H·杜瓦尔	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	国际测试解决方案有限公司,布雷特·A·汉弗里,詹姆斯·H·杜瓦尔	当前权利人	国际测试解决方案有限公司,布雷特·A·汉弗里,詹姆斯·H·杜瓦尔
发明人	阿兰·E·汉弗里;杰里·J·布罗兹;布雷特·A·汉弗里;詹姆斯·H·杜瓦尔
代理机构	北京市金杜律师事务所	代理人	苏娟;徐年康

摘要

本发明公开了一种用于清洁半导体测试装置内的销接触元件和支持硬件的方法，其包括：将清洁装置加载到半导体测试装置，清洁装置具有顶表面和位于顶表面的下面的一个或多个中间层，顶表面具有清洁销接触元件的预定特性，中间层具有一组预定特性，预定特性被选取用来优化用于测试接口的销接触元件和支撑结构的清洁装置，其中，所述一个或多个中间层的弹性系数范围在40MPa到600Mpa之间，每层具有在25μm和300μm之间的厚度，并且每层具有在30ShoreA和90ShoreA之间的硬度；以及在半导体测试装置的一般测试操作中，使销接触元件和支持硬件接触所述清洁装置，使得任意碎屑从销接触元件和支持硬件移除。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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