基于空间光调制的纳弧度量级三维角度测量方法与装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202110876134.X
IPC分类号：G01B11/27;G01B11/26
申请日期：
2021-07-30
申请人：
哈尔滨工业大学

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著录项信息

专利名称	基于空间光调制的纳弧度量级三维角度测量方法与装置
申请号	CN202110876134.X	申请日期	2021-07-30
法律状态	公开	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-11-30	公开/公告号	CN113720279A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/27 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/26 用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直 G01B11/27 用于检测轴线准直	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;7;;;G;0;1;B;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	谭久彬;石剑;李粤超;陶子曦;武慧林
代理机构	哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司	代理人	刘景祥

摘要

本发明属于精密测量技术领域与光学工程领域，具体涉及基于空间光调制的纳弧度量级三维角度测量方法与装置；该装置由半导体激光光源、凸透镜、多狭缝光阑、分光镜、偏振分光镜、转折镜、透射式空间光调制器、准直物镜组、面阵CCD、四象限位置探测器、固定平面反射镜以及反射靶标组成；该方法赋予反射靶标在光轴方向上的不对称性，使测量光束携带被测物俯仰角、偏航角信息的同时，敏感于被测物滚转角变化，从而使仪器装置具有对被测物三维角度变化的探测能力；由于本发明利用准直物镜组极大提高物镜焦距，因此具有在相同测量量程下，角度极限分辨力达到纳弧度量级的技术优势；利用凸透镜以及多狭缝光阑，同时利用四象限位置探测器与透射式空间光调制器进行漂移量反馈，提高系统稳定性至十纳弧度量级，从而解决光束漂移量限制自准直仪极限分辨力的问题。此外，本发明所设计的系统装置具有结构体积小、测量精度高、测量频响高的技术优势。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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