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非常规采样时间短期频率稳定度测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201010128833.8
  • IPC分类号:G01R23/02;G01S7/02
  • 申请日期:
    2010-03-19
  • 申请人:
    上海市计量测试技术研究院
著录项信息
专利名称非常规采样时间短期频率稳定度测量方法
申请号CN201010128833.8申请日期2010-03-19
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2011-09-21公开/公告号CN102193029A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R23/02IPC分类号G;0;1;R;2;3;/;0;2;;;G;0;1;S;7;/;0;2查看分类表>
申请人上海市计量测试技术研究院申请人地址
上海市张衡路1500号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海市计量测试技术研究院当前权利人上海市计量测试技术研究院
发明人胡立志;董莲;刘其华;苑佳;左建生
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)代理人郑玮
摘要
本发明公开了一种非常规采样时间短期频率稳定度测量方法,该非常规采样时间短期频率稳定度测量方法包括:利用相位噪声测试系统测量被检件的频率稳定度;所述相位噪声测试系统测量结束后,利用频率稳定度处理模块提取所述被检件的多个采样点的频率稳定度测量值;所述频率稳定度处理模块根据频率稳定度曲线选取插值算法,并设定非常规采样时间的插值点,以获得所述被检件的非常规采样时间的短期频率稳定度。本发明可准确测量雷达测速仪检定装置的非常规采样时间的短期频率稳定度,有效监控雷达测速仪检定装置的量值传递。

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