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一种用于雷达二次变频收发系统的杂散性能分析方法及装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011498352.6
  • IPC分类号:G01S7/40;G01R23/02
  • 申请日期:
    2020-12-17
  • 申请人:
    北京无线电测量研究所
著录项信息
专利名称一种用于雷达二次变频收发系统的杂散性能分析方法及装置
申请号CN202011498352.6申请日期2020-12-17
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-05-07公开/公告号CN112763991A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01S7/40IPC分类号G;0;1;S;7;/;4;0;;;G;0;1;R;2;3;/;0;2查看分类表>
申请人北京无线电测量研究所申请人地址
北京市海淀区永定路50号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京无线电测量研究所当前权利人北京无线电测量研究所
发明人江河
代理机构北京正理专利代理有限公司代理人陈君智
摘要
本发明提供一种用于雷达二次变频收发系统的杂散性能分析方法及装置,通过获取频率信号数据以及用户选取的处理模式信息;然后根据用户选取的处理模式信息得到交调处理参数;之后根据一输出频率模型以及所述交调处理参数,对所述频率信号数据进行循环计算,得到对应的输出频率数据;最后根据输出频率数据得到系统的杂散性能分析结果。本发明能够自动选取最优化的处理方式,选取出杂散最小的交调分析模式,能够实现雷达二次变频收发系统的带内杂散计算,可应用于系统的方案阶段、设计阶段及调试阶段。在方案阶段指导频率的选择;在电路实现阶段,为电路参数的选取提供参考;调试中对已有系统存在的杂散提供改进解决方案,能够将杂散可视化。

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