一种基于双距离法的挠度测量装置及残余应力消除方法

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专利名称	一种基于双距离法的挠度测量装置及残余应力消除方法
申请号	CN202110148031.1	申请日期	2021-02-03
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-08	公开/公告号	CN112923836A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B5/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B5/00 以采用机械方法为特征的计量设备（包括在大组G01B 3/00中的各式量具本身入G01B 3/00）〔2〕 G01B5/30 用于计量固体的变形，例如机械应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;5;/;3;0;;;C;2;1;D;1;1;/;0;0;;;C;2;1;D;1;/;3;0查看分类表>
申请人	温州大学	申请人地址	浙江省温州市瓯海区东方南路38号温州市国家大学科技园孵化器变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	温州大学	当前权利人	温州大学
发明人	朱翔鸥;孙创;赵升;郭凤仪;李俐;张应林;张正江;闫正兵;戴瑜兴
代理机构	北京高沃律师事务所	代理人	韩雪梅

摘要

本发明涉及一种热双金属片挠度测量装置包括：支架固定在固定台的底部，刻度直尺固定在固定台的顶部，刻度直尺与所述支架同轴设置，工作时，热双金属片的一端固定在支架上，标有刻度的指针固定在热双金属片的另一端。本发明提供的热双金属片挠度测量装置简化了热双金属片挠度测量过程，操作简单。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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