光学式谷粒评价装置及具备所述光学式谷粒评价装置的联合收割机

发明专利有效专利

申请号：
CN201580028845.4
IPC分类号：G01N21/3563;A01F12/60;G01N21/3554
申请日期：
2015-08-14
申请人：
株式会社久保田

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著录项信息

专利名称	光学式谷粒评价装置及具备所述光学式谷粒评价装置的联合收割机
申请号	CN201580028845.4	申请日期	2015-08-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-02-22	公开/公告号	CN106461545A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/3563 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕 G01N21/31 测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术〔3〕 G01N21/35 利用红外光（G01N 21/39优先）〔3，2014.01〕 G01N21/3563 用于分析固体，及其样品制备〔2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;3;5;6;3;;;A;0;1;F;1;2;/;6;0;;;G;0;1;N;2;1;/;3;5;5;4查看分类表>
申请人	株式会社久保田	申请人地址	日本大阪府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社久保田	当前权利人	株式会社久保田
发明人	森本进;添正夫
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	张思宝;岳雪兰

摘要

光学式谷粒评价装置具备：投光部(58)，其将来自光源的光向谷粒照射；受光部(59)，其供透过谷粒的光入射；谷粒评价部(60)，其基于接收到的光的信息评价谷粒；遮蔽部(SH)，其将光源(50)和投光部(59)之间的区域与受光部(59)和谷粒评价部(60)之间的区域隔离开，阻止光从投光部(58)直接向受光部(59)入射；光源(50)和投光部(58)之间的区域以及受光部(59)和谷粒评价部(60)之间的区域的区域构成为光在空气中传播的空气传播区域。

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