回转体壁厚测量装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200520025174.X
IPC分类号：G01B21/00
申请日期：
2005-01-21
申请人：
天津大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	回转体壁厚测量装置
申请号	CN200520025174.X	申请日期	2005-01-21
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人	天津大学	申请人地址	天津市南开区卫津路92号天津大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津大学	当前权利人	天津大学
发明人	张国雄;裘祖荣;刘书桂;张宏伟;洪欣;郭敬滨
代理机构	天津市北洋有限责任专利代理事务所	代理人	江镇华

摘要

本实用新型涉及公开了一种回转体壁厚测量装置，包括基座、测量架、固定被测工件的工件安装部件和测头，工件安装部件由回转工作台和滚动轮组成。基座通过其上的导轨连接有可在其导轨上沿X2方向运动的第一测量架和沿X1方向运动第二测量架。第一测量架上设置有根据测量需要能旋转到所需角度的转架，转架上设置有Z向导轨，Z向导轨上设置有可在其上沿Z2方向运动的滑架，滑架设置有测座和第二测头，测座设置长臂，长臂设置有第一测头，回转工作台设置有第三测头。第二测量架的主轴上设置有第四测头。本实用新型能保证被测工件的轴线方向准确，不会因自重使轴线方向产生偏差，可以使测头和工件的运动误差基本上不影响测量精度，内外测头同时测量还可减小了测量力引起的薄壁件变形。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN102483317A	2010-04-14	2010-04-14	测量表面轮廓的方法和装置有效专利	卡尔.马尔控股有限公司
2	CN102384732A	2011-10-31	2011-10-31	交点内置正交回转轴轴线共面度检测装置及精度检测方法失效专利	西安理工大学
3	CN102426000B	2011-08-30	2011-08-30	交点外露两串联相邻相交回转轴线共面度检测装置及方法失效专利	西安理工大学
4	CN102426000A	2011-08-30	2011-08-30	交点外露两串联相邻相交回转轴线共面度检测装置及方法失效专利	西安理工大学
5	CN102483317B	2010-04-14	2010-04-14	测量表面轮廓的方法和装置有效专利	卡尔.马尔控股有限公司

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