交点内置正交回转轴轴线共面度检测装置及精度检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110335590.X
IPC分类号：G01B21/00
申请日期：
2011-10-31
申请人：
西安理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	交点内置正交回转轴轴线共面度检测装置及精度检测方法
申请号	CN201110335590.X	申请日期	2011-10-31
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2012-03-21	公开/公告号	CN102384732A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人	西安理工大学	申请人地址	陕西省西安市金花南路5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安理工大学	当前权利人	西安理工大学
发明人	黄玉美;杨新刚;吕维刚;张龙飞;刘同庆
代理机构	西安弘理专利事务所	代理人	李娜

摘要

本发明公开了一种交点内置正交回转轴轴线共面度检测装置，在前组件壳体上同轴连接有前组件回转体，前组件回转体与后组件壳体固定连接，后组件壳体内安装有后组件回转体，后组件回转体的端头安装有三维移动微调机构C，三维移动微调机构C通过连接杆与标准球连接，标准球的水平方向及下方竖直方向各设置有三维移动微调机构，该两个三维移动微调机构上各安装有一非接触位移传感器。本发明还公开了利用上述的装置进行交点内置正交回转轴轴线共面度精度检测方法，特点是：检测高精度高，适用于悬臂式交点内置的正交轴、钳式交点内置的正交轴的共面度检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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