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具有可变并行性和固件可升级性的灵活存储接口测试器

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201180026574.0
  • IPC分类号:G06F11/22;G06F11/273;G06F13/14;G06F13/38
  • 申请日期:
    2011-05-18
  • 申请人:
    爱德万测试公司
著录项信息
专利名称具有可变并行性和固件可升级性的灵活存储接口测试器
申请号CN201180026574.0申请日期2011-05-18
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-04-10公开/公告号CN103038751A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/22IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;2;2;;;G;0;6;F;1;1;/;2;7;3;;;G;0;6;F;1;3;/;1;4;;;G;0;6;F;1;3;/;3;8查看分类表>
申请人爱德万测试公司申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人爱德万测试公司当前权利人爱德万测试公司
发明人斯科特·费勒尔;亨德里克·简(埃里克)·沃克里克;艾哈迈德·萨米·坦塔维
代理机构北京东方亿思知识产权代理有限责任公司代理人李晓冬
摘要
一种用在自动测试设备中的系统。在一个实施例中,该系统包括可配置的集成电路(IC),该集成电路可编程为提供用在自动测试设备中的测试模式。该可配置的IC包括可配置的接口核,该接口核可编程为对于被测设备(DUT)提供一个或多个基于协议的接口的功能并且可编程为与DUT接口。该系统还包括可配置成将可配置的IC耦合到DUT的连接。

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