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半导体基底结构及半导体装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201711164274.4
  • IPC分类号:H01L29/78;H01L29/861;H01L29/06
  • 申请日期:
    2017-11-21
  • 申请人:
    新唐科技股份有限公司
著录项信息
专利名称半导体基底结构及半导体装置
申请号CN201711164274.4申请日期2017-11-21
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2019-03-29公开/公告号CN109545853A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L29/78
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;9;/;7;8;;;H;0;1;L;2;9;/;8;6;1;;;H;0;1;L;2;9;/;0;6查看分类表>
申请人新唐科技股份有限公司申请人地址
中国台湾新竹科学工业园区 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人新唐科技股份有限公司当前权利人新唐科技股份有限公司
发明人迪瓦;陈柏安
代理机构北京三友知识产权代理有限公司代理人贾磊;郭晓宇
摘要
本发明实施例揭示一种半导体基底结构,包含半导体基底,具有第一导电类型,第一埋藏井区设置于半导体基底内,具有与第一导电类型相反的第二导电类型,以及第一埋层和一第二埋层设置于半导体基底内和第一埋藏井区上,其中第一埋层具有第二导电类型,第二埋层具有第一导电类型,且第一埋层具有第一部分和第二部分,第二埋层位于第一部分和第二部分之间。

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