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增加氮化物只读存储器阵列的抹除均匀性的结构及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200610075472.9
  • IPC分类号:G11C16/14;G11C11/56
  • 申请日期:
    2006-04-20
  • 申请人:
    旺宏电子股份有限公司
著录项信息
专利名称增加氮化物只读存储器阵列的抹除均匀性的结构及方法
申请号CN200610075472.9申请日期2006-04-20
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2007-02-28公开/公告号CN1921014
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G11C16/14IPC分类号G;1;1;C;1;6;/;1;4;;;G;1;1;C;1;1;/;5;6查看分类表>
申请人旺宏电子股份有限公司申请人地址
中国台湾新竹科学工业园区 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人旺宏电子股份有限公司当前权利人旺宏电子股份有限公司
发明人林清淳;陈耕晖;郭乃萍;陈汉松;洪俊雄;谢文义
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人吕晓章;李晓舒
摘要
一种增加氮化物只读存储器(Nitride Read-Only Memory,NROM)阵列的抹除均匀性的方法。NROM内存阵列具有数个NROM存储单元、耦接在这些NROM存储单元的左侧的数个偶序金属位线以及耦接在这些NROM存储单元的右侧的数个奇序金属位线。此方法包括:首先,抹除这些NROM存储单元的左侧。接着,施加正电压至耦接在这些NROM存储单元的左侧的这些偶序金属位线。然后,将耦接各NROM存储单元的右侧的这些奇序金属位线放电至共同节点。

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