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氮化物半导体基板、层叠结构体和氮化物半导体基板的制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202080011565.3
  • IPC分类号:C30B29/38;C30B25/18
  • 申请日期:
    2020-01-23
  • 申请人:
    赛奥科思有限公司;住友化学株式会社
著录项信息
专利名称氮化物半导体基板、层叠结构体和氮化物半导体基板的制造方法
申请号CN202080011565.3申请日期2020-01-23
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-09-07公开/公告号CN113366159A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C30B29/38IPC分类号C;3;0;B;2;9;/;3;8;;;C;3;0;B;2;5;/;1;8查看分类表>
申请人赛奥科思有限公司;住友化学株式会社申请人地址
日本茨城县 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人赛奥科思有限公司,住友化学株式会社当前权利人赛奥科思有限公司,住友化学株式会社
发明人吉田丈洋
代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)代理人刘新宇;李茂家
摘要
一种氮化物半导体基板,其由III族氮化物半导体的单晶形成,且具有最近的低指数晶面为(0001)面的主面,所述氮化物半导体基板具有以除了(0001)面之外的倾斜界面作为生长面而生长的倾斜界面生长区域,倾斜界面生长区域在主面中所占的面积比例为80%以上,利用多光子激发显微镜以250μm见方的视野观察主面,由暗点密度求出位错密度时,主面中不存在位错密度超过3×106cm‑2的区域,主面以100个/cm2以上的密度具有不重叠的50μm见方的无位错区域。

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