一种损伤排查方法、装置、电子设备及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN201911014825.8
IPC分类号：G06F16/51;G06T7/00
申请日期：
2019-10-23
申请人：
中国工程物理研究院激光聚变研究中心

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种损伤排查方法、装置、电子设备及存储介质
申请号	CN201911014825.8	申请日期	2019-10-23
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-01-31	公开/公告号	CN110737789A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F16/51	IPC分类号	G;0;6;F;1;6;/;5;1;;;G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	申请人地址	四川省绵阳市游仙区绵山路64号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	当前权利人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心
发明人	田野;韩伟;李富全;周丽丹;向勇;王芳;房奇
代理机构	北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	谢玲

摘要

本申请提供一种损伤排查方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取光学器件的多个损伤分布图像，所述多个损伤分布图像用于表征不同时刻的所述光学器件的损伤情况；从所述多个损伤分布图像中的第一图像中确定待查损伤点；针对所述第一图像中的每个待查损伤点，根据所述待查损伤点在所述第一图像中的位置，在所述多个损伤分布图像中除所述第一图像之外的图像集中查找对应的损伤点；针对每个所述待查损伤点，统计在所述图像集中有搜索到与其对应的损伤点的图像的数量；根据所有所述待查损伤点的统计结果进行损伤排查。可以根据待查损伤点在多个损伤分布图像中出现的次数，更加高效地进行损伤排查，提高损伤检测的准确性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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