复杂曲面微缺陷的阵列超声检测技术

发明专利无效专利

申请号：
CN201110360389.7
IPC分类号：G01N29/04;G01N29/44
申请日期：
2011-11-15
申请人：
北京理工大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	复杂曲面微缺陷的阵列超声检测技术
申请号	CN201110360389.7	申请日期	2011-11-15
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-04-25	公开/公告号	CN102426194A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;4;;;G;0;1;N;2;9;/;4;4查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	徐春广;李喜朋;刘钊;肖定国;潘勤学;孟凡武;周世圆;赵新玉;郝娟;宋文涛;曹现东
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种快速化检测复杂曲面构件内部微细小缺陷的阵列超声检测技术，可应用于航空、航天、武器、汽车、医疗等领域。本发明通过对复杂曲面构件的上下表面同时设置换能器且不同曲率部分设置不同数量换能器的方法，使超声传感器有效作用范围覆盖构件需要检测的所有部位。采用计算机技术控制传感器阵列快速提取复杂曲面构件内部信息，能够极大地提高检测效率，克服传统单探头扫描检测效率低、采集信息量少的弊端，有效提高对复杂曲面构件内部缺陷的检测精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供