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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

显示面板及显示面板裂纹的检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010151183.2
  • IPC分类号:G01M11/02
  • 申请日期:
    2020-03-06
  • 申请人:
    武汉华星光电半导体显示技术有限公司
著录项信息
专利名称显示面板及显示面板裂纹的检测方法
申请号CN202010151183.2申请日期2020-03-06
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2020-06-09公开/公告号CN111256957A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/02IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人武汉华星光电半导体显示技术有限公司申请人地址
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉华星光电半导体显示技术有限公司当前权利人武汉华星光电半导体显示技术有限公司
发明人左清成
代理机构深圳紫藤知识产权代理有限公司代理人吕姝娟
摘要
本揭示提供一种显示面板及显示面板裂纹的检测方法,显示面板包括显示区和非显示区以及中心线,非显示区设有驱动集成电路单元、检测控制单元以及两条相互绝缘并间隔设置的裂纹检测线,两条裂纹检测线各自的第一端分别连接所述驱动集成电路单元,第二端分别由所述显示区的相对两侧沿显示区的外围延伸至与检测控制单元连接并包围显示区,两条所述裂纹检测线在所述显示面板的中心线处交叠,位于交叠处的两条裂纹检测线之间形成一电容,不仅可以使得显示面板的各个区域均能够被检测到是否有裂纹发生,还可以检测显示面板内裂纹发生的程度,以此防止不良品流入至客户端,提高显示面板的品质。

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