一种针式磁斥聚焦的检测传感器及检测系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202110558326.6
IPC分类号：G01N27/82
申请日期：
2021-05-21
申请人：
华中科技大学

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著录项信息

专利名称	一种针式磁斥聚焦的检测传感器及检测系统
申请号	CN202110558326.6	申请日期	2021-05-21
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-20	公开/公告号	CN113281398A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/82 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/72 通过测试磁变量 G01N27/82 用于测试缺陷的存在	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;8;2查看分类表>
申请人	华中科技大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华中科技大学	当前权利人	华中科技大学
发明人	刘世伟;孙燕华;张驰;姜宵园
代理机构	华中科技大学专利中心	代理人	尚威;孔娜

摘要

本发明属于无损检测相关技术领域，并公开了一种针式磁斥聚焦的检测传感器及检测系统。该检测传感器包括永磁体、磁引导芯和感应元件，其中：所述永磁体用于产生相互排斥的磁场，所述磁引导芯设置在所述永磁体的中心，用于将所述永磁体产生的互斥磁场聚集在中心并引导至所述磁引导芯上，所述感应元件设置在所述磁引导芯上，当采用所述检测传感器检测待检测磁性材料表面形貌时，表面形貌的改变引起所述磁引导芯中磁场的变化，所述感应元件用于检测所述磁引导芯中磁场的变化并将其转换为电信号，以此实现待测磁性材料表面形貌的检测。通过本发明，解决磁性材料表面微小形貌检测分辨率低的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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