基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910312347.2
IPC分类号：G06F11/22;G06F11/26
申请日期：
2019-04-18
申请人：
记忆科技（深圳）有限公司

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著录项信息

专利名称	基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法
申请号	CN201910312347.2	申请日期	2019-04-18
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-08-09	公开/公告号	CN110109787A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/22 在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位〔3，2006.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;2;2;;;G;0;6;F;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人	记忆科技（深圳）有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区蛇口街道蛇口后海大道东角头厂房D14/F、D24/F、D15/F 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	记忆科技（深圳）有限公司	当前权利人	记忆科技（深圳）有限公司
发明人	李志宁;石骁;赵寅初
代理机构	深圳市精英专利事务所	代理人	冯筠

摘要

本申请涉及一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。通过本测试方法，可提前预知低功耗的进出是否会导致固态硬盘过早磨穿。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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