智能卡的测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200510135180.5
IPC分类号：H04Q7/34
申请日期：
2005-12-29
申请人：
北京握奇数据系统有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	智能卡的测试方法
申请号	CN200510135180.5	申请日期	2005-12-29
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2006-06-21	公开/公告号	CN1791258
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04Q7/34 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04Q 选择（开关、继电器、选择器入H01H；无线通信网络入H04W）〔1，2009.01〕 H04Q7/34 （转入H04W 24/00至H04W 24/10）	IPC分类号	H;0;4;Q;7;/;3;4查看分类表>
申请人	北京握奇数据系统有限公司	申请人地址	北京市海淀区长春桥路5号4号楼706室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京意诚信通智能卡股份有限公司	当前权利人	北京意诚信通智能卡股份有限公司
发明人	景涛
代理机构	北京中博世达专利商标代理有限公司	代理人	申健;张岱

摘要

本发明公开了一种智能卡的测试方法，针对现有智能卡测试方法中会出现产品由于测试不足而产生故障提出一种方法，包括：(1)生成测试卡；(2)使用已有的智能卡与终端设备进行通信，获得发送给智能卡的指令和智能卡的返回数据；(3)根据所述步骤(2)得到的指令和返回数据，生成测试例；(4)将所述输入发送到测试卡，并监测测试卡的返回数据，如果所述测试卡的返回数据与所述的预期输出相同，则测试成功，如果不相同则测试失败。本发明提出的智能卡的测试方法，使测试更符合最终用户的使用习惯，同时能够避免由于测试覆盖度不够而造成测试通过的升级产品在用户使用中出现问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN1503168A	2004-06-09	2002-11-22	一种系统产品的自动化测试方法失效专利	深圳市中兴通讯股份有限公司
2	CN2611989Y	暂无	2003-04-04	可自测试的带微处理器的智能卡芯片失效专利	上海华园微电子技术有限公司
3	CN1632759A	2005-06-29	2003-12-24	可灵活实现片内EEPROM仿真功能的方法失效专利	上海华虹集成电路有限责任公司

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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