精密冷镜式露点仪及消除温度测定值漂移的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110036867.9
IPC分类号：G01N25/66
申请日期：
2011-02-12
申请人：
北京兴泰学成仪器有限公司

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著录项信息

专利名称	精密冷镜式露点仪及消除温度测定值漂移的方法
申请号	CN201110036867.9	申请日期	2011-02-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-08-15	公开/公告号	CN102636518A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/66 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先） G01N25/56 通过测定水分的含量 G01N25/66 通过测试露点	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;6;6查看分类表>
申请人	北京兴泰学成仪器有限公司	申请人地址	北京市通州区金桥科技产业基地景盛南四街甲13号2DF3A 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京兴泰学成仪器有限公司	当前权利人	北京兴泰学成仪器有限公司
发明人	章啸;李军远
代理机构	北京风雅颂专利代理有限公司	代理人	李弘;李翔

摘要

冷镜式露点仪大多利用铂电阻测量露点温度，但由于铂电阻存在温度漂移的缺陷，与实际值相比，测量值存在一定的差异。因此需要经常利用标准样品进行校正。本发明公布了一种具有温度自校正功能的精密冷镜式露点仪及消除温度测量值漂移的方法。在露点测量开始前，将两个相当于所测样品上限和下限温度的铂电阻阻值的精密电阻R1和R2，替换铂电阻先后分别接入测量电路，对测量电路进行校正。达到露点后，记录测量电路的输出电压，根据校正结果，将已漂移的露点测定值转换为标准值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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