具有用于检测物理运行参数的集成传感器的边界扫描电路

发明专利无效专利

申请号：
CN200380109291.8
IPC分类号：G01R31/3185
申请日期：
2003-12-18
申请人：
皇家飞利浦电子股份有限公司

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著录项信息

专利名称	具有用于检测物理运行参数的集成传感器的边界扫描电路
申请号	CN200380109291.8	申请日期	2003-12-18
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-03-08	公开/公告号	CN1745312
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3185 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/3185 测试的重新配置，例如LSSD，划分〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;5查看分类表>
申请人	皇家飞利浦电子股份有限公司	申请人地址	荷兰艾恩德霍芬变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	NXP股份有限公司	当前权利人	NXP股份有限公司
发明人	R·F·舒特;F·G·M·德荣格
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	王波波

摘要

一种集成电路设备具有边界扫描结构，该结构带有一个耦合在测试输入端(TDI)和测试输出端(TDO)之间的测试移位寄存器结构。该测试寄存器结构用来从测试输入端向测试输出端移位信息。通过移位将测试数据从输入端传送到输出端。测试移位寄存器结构包含一个耦合到用于处于测试的功能电路的连接(12)的数据移位部分(106)。与数据移位部分并联的是一个指令移位结构(102、104)。通过测试控制信号控制指令信息是否经由指令移位部分从测试输入端行进到测试输出端或者控制数据是否经由数据移位部分从测试输入端行进到测试输出端。来自指令移位部分的指令信息控制在测试模式下设备的操作。提供一个检测设备物理运行参数的传感器(14)。为了从指令移位部分馈送给测试输出端一个检测结果，传感器具有一个耦合到移位寄存器结构(102)的输出(18)。这种使检测结果可访问的形式优选地应用于其数值表现出设备的损坏危险的参数，例如温度。这使迅速地检测危险的参数值成为可能。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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