触控芯片模拟按压测试治具

发明专利有效专利

申请号：
CN202110069849.4
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2021-01-19
申请人：
张雪

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	触控芯片模拟按压测试治具
申请号	CN202110069849.4	申请日期	2021-01-19
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-01	公开/公告号	CN112881891A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	张雪	申请人地址	安徽省蚌埠市五河县沱湖乡大岗村圩后116号附1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	张雪	当前权利人	张雪
发明人	张雪
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了触控芯片模拟按压测试治具，包括测试机本体，测试机本体的机台上设有滑槽，板件上设有芯片槽，升降板上设有缓冲槽，缓冲槽内套设有升降块，升降块上安装有探针。通过控制板件移出或移入滑槽，便于将芯片放入或取出；通过控制电磁铁的磁性，能够控制压杆收入腔体或移出腔体，从而便于控制压杆的一端压住芯片，将芯片固定在芯片槽内，避免出现芯片移动错位影响测试的情况；通过激光灯顺着探针射出光线照射在芯片上，能够对探针与芯片之间进行定位，避免出现探针与芯片错位的情况；通过控制多个探针对多个芯片槽内的芯片进行测试，能够提高测试的效率；通过第一弹簧进行缓冲，能够避免出现芯片被压坏的情况。

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