适用于分析局部残余应力影响的分布式磁测量装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110409885.0
IPC分类号：G01R33/02;G01R33/12;G01R1/067;G01R1/04
申请日期：
2021-04-16
申请人：
河北工业大学

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著录项信息

专利名称	适用于分析局部残余应力影响的分布式磁测量装置及方法
申请号	CN202110409885.0	申请日期	2021-04-16
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-25	公开/公告号	CN113030797A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/02 测量磁场或磁通量的方向或大小（G01R 33/20优先）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;0;2;;;G;0;1;R;3;3;/;1;2;;;G;0;1;R;1;/;0;6;7;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	河北工业大学	申请人地址	天津市红桥区丁字沽光荣道8号河北工业大学东院330# 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	河北工业大学	当前权利人	河北工业大学
发明人	李永建;张凯;窦宇;付裕
代理机构	天津翰林知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	王瑞

摘要

本发明公开了一种适用于分析局部残余应力影响的分布式磁测量装置及方法。该装置包括底板、三轴精密位移台、多节式连接杆、滑轨块、B探针组件、双层H传感线圈组件、八向样品固定台和激励；底板上固定有三轴精密位移台和八向样品固定台的底座；多节式连接杆的一个端部与三轴精密位移台的输出端固定连接，多节式连接杆的其余末端分别与各自的滑轨块固定连接；每个滑轨块的滑轨中滑动连接有一个双层H传感线圈组件和两个B探针组件；双层H传感线圈组件位于两个B探针组件之间。本方法可以针对残余应力对磁性材料造成的局部磁性能恶化进行分析，测量范围可调节，测量普适性高，测量精度高且可实现不断电的连续化磁特性测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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