多功能飞秒电子束诊断仪

发明专利无效专利

申请号：
CN201110254576.7
IPC分类号：G01T1/29
申请日期：
2011-08-31
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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著录项信息

专利名称	多功能飞秒电子束诊断仪
申请号	CN201110254576.7	申请日期	2011-08-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-05-09	公开/公告号	CN102445705A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/29 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/29 对辐射束流的测量，例如，测量射束位置或截面；辐射的空间分布的测量〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;2;9查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	上海市嘉定区800－211邮政信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人	李文涛;王文涛;邓爱华;张辉;王成;刘建胜
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯

摘要

一种用于可同时测量飞秒电子束长度、能谱和电量参数的多功能飞秒电子束诊断仪，由电子束偏转单元、电子束能谱单元、电子束初始方向定标单元、电子束偏转和电量测量单元组成。本发明主要利用了后向相干衍射辐射导致的电子束偏转效应，并结合了传统电子能谱仪和前向相干衍射辐射定标法，克服了传统电子束诊断仪无法实现对10fs甚至飞秒量级的电子束长度、能谱、电量等参数同步测量的缺点。实现了对飞秒电子束的电子束长度、能谱、电量的同步测量，具有操作简单、方便高效、测量精度高、应用范围广的优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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