一种激光偏振态测量装置及其测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810703684.X
IPC分类号：G01J4/00
申请日期：
2018-06-29
申请人：
中国工程物理研究院应用电子学研究所

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著录项信息

专利名称	一种激光偏振态测量装置及其测量方法
申请号	CN201810703684.X	申请日期	2018-06-29
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2018-11-13	公开/公告号	CN108801465A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J4/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J4/00 测量光的偏振〔2〕	IPC分类号	G;0;1;J;4;/;0;0查看分类表>
申请人	中国工程物理研究院应用电子学研究所	申请人地址	四川省绵阳市游仙区919信箱1013分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国工程物理研究院应用电子学研究所	当前权利人	中国工程物理研究院应用电子学研究所
发明人	蒋志雄;高学燕;周文超;魏继锋;胡晓阳;庞淼;何均章;庞毓;黄德权;田小强;刘林
代理机构	成都九鼎天元知识产权代理有限公司	代理人	詹永斌

摘要

本发明提供了一种激光偏振态测量装置及其测量方法，该方案包括有偏振分束镜、偏振分光棱镜Ⅰ、偏振分光棱镜Ⅱ、45°全反镜Ⅰ、45°全反镜Ⅱ、漫透射屏Ⅰ、漫透射屏Ⅱ、漫透射屏Ⅲ、漫透射屏Ⅳ、CCD相机、数据处理器和同步触发器；该方案采用漫透射屏结合CCD相机成像的子束相对能量测量方法，用于激光偏振态测量，系统简单集成度高，特别适合口径较大的高重频脉冲激光偏振态测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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