一种轴向多孔道介质外观尺寸自动测量系统及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201610208120.X
IPC分类号：G01B11/08;G01B11/06;G01B11/00;G05B19/04
申请日期：
2016-04-05
申请人：
华中科技大学无锡研究院

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种轴向多孔道介质外观尺寸自动测量系统及方法
申请号	CN201610208120.X	申请日期	2016-04-05
法律状态	驳回	申报国家	暂无
公开/公告日	2016-08-17	公开/公告号	CN105865356A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/08 用于计量直径	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;8;;;G;0;1;B;1;1;/;0;6;;;G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;5;B;1;9;/;0;4查看分类表>
申请人	华中科技大学无锡研究院	申请人地址	江苏省无锡市惠山区堰新路311号创业中心3号楼11楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华中科技大学无锡研究院	当前权利人	华中科技大学无锡研究院
发明人	胡友民;刘颉;王涛
代理机构	北京品源专利代理有限公司	代理人	孟金喆;胡彬

摘要

本发明公开一种轴向多孔道介质外观尺寸自动测量系统及方法，该系统包括：集成控制中心，用于：一、对传感检测子系统采集得到数据信息进行处理分析和缺陷判断；二、对传感检测子系统、物流输送子系统进行时许控制。传感检测子系统，用于但不限于完成对轴向多孔道介质样品外观尺寸参数的传感测量，并将采集得到的数据信息传输给集成控制中心。物流输送子系统，用于根据集成控制中心的时序控制指令，完成对轴向多孔道介质样品进行包括但不限于搬运、剔除、保存操作。本发明实现了轴向多孔道介质样品外观尺寸参数的自动测量、次品剔除，提高了轴向多孔道介质样品外观尺寸测量的准确率和效率，全程无需人工参与，节约人工检测成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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