加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

温度传感器热接触测试方法和电路

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201880074468.1
  • IPC分类号:H01M10/48;H01M10/42;G01K1/02;G01K15/00
  • 申请日期:
    2018-06-01
  • 申请人:
    三星SDI株式会社
著录项信息
专利名称温度传感器热接触测试方法和电路
申请号CN201880074468.1申请日期2018-06-01
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-06-30公开/公告号CN111357146A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01M10/48IPC分类号H;0;1;M;1;0;/;4;8;;;H;0;1;M;1;0;/;4;2;;;G;0;1;K;1;/;0;2;;;G;0;1;K;1;5;/;0;0查看分类表>
申请人三星SDI株式会社申请人地址
韩国京畿道龙仁市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人三星SDI株式会社当前权利人三星SDI株式会社
发明人M.霍弗;H.哈默施米德
代理机构北京铭硕知识产权代理有限公司代理人尹淑梅;刘灿强
摘要
本发明涉及一种用于温度传感器(50)与电池模块(30)的电池单体(10)之间的热接触的测试方法,其中,所述方法包括以下步骤:在时间点t1时测量温度传感器(50)的温度T1;在限定时间(t2‑t1)内加热温度传感器(50);在时间点t2时测量温度传感器(50)的温度T2和/或在时间点t3时测量温度传感器(50)的温度T3;以及基于温度差ΔT2,1=(T2‑T1)、ΔT3,1=(T3‑T1)和/或ΔT3,2=(T3‑T2)中的至少一者来确定温度传感器(50)与电池单体(10)之间的热接触。发明还涉及一种电池模块(30)的用于温度传感器(50)的测试电路(60),所述测试电路(60)包括:热敏电阻器(61),具有连接到第一电源电压(65)的第一节点(67)和连接到地(69)的第二节点(68);开关(63),连接在热敏电阻器(61)的第一节点(67)与第二电源电压(66)之间;以及模数转换器(64),与热敏电阻器(61)并联连接。发明还涉及一种用于电池模块(30)的单体监测电路(40),所述单体监测电路(40)包括:电路载体(45);根据权利要求1至权利要求10中的任意一项的测试电路(60);以及温度传感器(50),表面安装到电路载体(45)并且包括具有热敏电阻器(61)的测量头(51),热敏电阻器(61)被构造为与电池模块(30)的电池单体(10)热接触。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供