集成电路高压大电流测试装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201210074042.0
IPC分类号：G01R31/12;G01R31/28
申请日期：
2012-03-20
申请人：
杭州长川科技有限公司

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引证文献

著录项信息

专利名称	集成电路高压大电流测试装置
申请号	CN201210074042.0	申请日期	2012-03-20
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2012-08-15	公开/公告号	CN102636735A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/12 测试介电强度或击穿电压	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;1;2;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	杭州长川科技有限公司	申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨安路1180号华业高科技产业园3号楼6楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州长川科技股份有限公司	当前权利人	杭州长川科技股份有限公司
发明人	钟锋浩;韩笑;叶键波;王维
代理机构	杭州杭诚专利事务所有限公司	代理人	尉伟敏

摘要

本发明涉及集成电路测试设备领域，目的是提供一种测试效率高且安全性好的集成电路高压大电流测试装置。一种集成电路高压大电流测试装置，所述的集成电路高压大电流测试装置包括底板、送料轨道、安装板、金手指、用于固定金手指的固定绝缘座、用于放置被测集成电路的测试绝缘座、测试机构和用于推动金手指与集成电路的测试端头接触的推动机构；所述的安装板和固定绝缘座分别位于送料轨道的相对两侧，送料轨道、安装板和固定绝缘座分别与底板固定连接；所述的测试绝缘座位于送料轨道设有的凹槽处并与送料轨道固定连接；所述的测试机构和推动机构分别与安装板固定连接。该集成电路高压大电流测试装置测试效率高且安全性好。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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