全口径增益测量仪

发明专利无效专利

申请号：
CN200510086413.7
IPC分类号：G01M11/00;G01J1/00;H04B10/08
申请日期：
2005-09-13
申请人：
中国科学院光电技术研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	全口径增益测量仪
申请号	CN200510086413.7	申请日期	2005-09-13
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-03-01	公开/公告号	CN1740763
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0;;;G;0;1;J;1;/;0;0;;;H;0;4;B;1;0;/;0;8查看分类表>
申请人	中国科学院光电技术研究所	申请人地址	四川省成都市双流350信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院光电技术研究所	当前权利人	中国科学院光电技术研究所
发明人	李恩德;段海峰;杨泽平;张雨东
代理机构	北京科迪生专利代理有限责任公司	代理人	刘秀娟;成金玉

摘要

全口径增益测量仪由光束匹配望远镜、过滤系统和光电耦合器件CCD以及数据采集、处理和显示系统组成，系统采用了二维面阵CCD探测光强信号的二维强度分布，可以同时测量被测激光放大器全口径内的增益及增益分布。本发明结构简单、稳定可靠、测量精度高，相对于现有的多点探针光增益测量技术，能够克服实验过程中相邻两次发射之间的随机性而导致的测量误差，能够简化实验过程，加快测量速度并提高测量精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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