一种光谱测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201310591620.2
IPC分类号：G01J3/28;G01J3/12;G01J3/02
申请日期：
2013-11-22
申请人：
杭州远方光电信息股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种光谱测量装置
申请号	CN201310591620.2	申请日期	2013-11-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-02-12	公开/公告号	CN103575397A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;1;2;;;G;0;1;J;3;/;0;2查看分类表>
申请人	杭州远方光电信息股份有限公司	申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨康路669号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州远方光电信息股份有限公司	当前权利人	杭州远方光电信息股份有限公司
发明人	潘建根
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种光谱测量装置，包括前置分光装置、导光装置和一台以上的阵列光谱仪，前置分光装置对入射光辐射进行色散分光，并将所需测量的目标光谱成像至导光装置的输入端。导光装置将目标光谱分段或者整体输入对应的阵列光谱仪，分段或者时序测量目标光谱，有效避免了各测量光谱的带外杂散光，且在窄波段，各阵列光谱仪可实现更高分辨率。此外，本发明还可以通过使用光纤式的导光装置以及对光纤输入端和输出端进行合理排布，进一步改善目标光谱的接收效率，以及光谱测量装置的杂散光和成像质量，具有设计巧妙、杂散光低、应用灵活和测量准确度高等特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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