利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910445149.3
IPC分类号：G01N21/17;G01J1/00
申请日期：
2019-05-27
申请人：
安徽省农业科学院烟草研究所

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专利名称	利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法
申请号	CN201910445149.3	申请日期	2019-05-27
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-08-13	公开/公告号	CN110118731A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/17 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;1;7;;;G;0;1;J;1;/;0;0查看分类表>
申请人	安徽省农业科学院烟草研究所	申请人地址	安徽省合肥市庐阳区农科南路40号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	安徽省农业科学院烟草研究所	当前权利人	安徽省农业科学院烟草研究所
发明人	李廷春;董庆;杨华应;刘桂虎;周应兵;陈洪俭;李成
代理机构	合肥中谷知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	洪玲

摘要

一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，属于玉米种质的鉴定方法技术领域，所述的方法是将种子胚乳朝上放置于照度计的光学测定点上，采用微型固定白光源，从上方紧贴果皮照射种子胚乳，记录照度计上光强读数，根据光源透过种子胚乳的光强强度判断种子是否为全粉质种子，如果透过种子胚乳的光强强度小于5lux，则该种子为全粉质糯玉米，如果透过种子胚乳的光强强度大于100lux，则该种子为腊质糯玉米。该方法根据不同结构淀粉的光学特性鉴定全粉质、蜡质糯玉米种质，该方法可辅助加快全粉质、蜡质糯玉米自交系的培育与鉴定，以及全粉质、蜡质糯玉米新品种的选育，具有很好的应用前景。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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