微冲击测试设备

发明专利无效专利

申请号：
CN200680001560.2
IPC分类号：G01N3/30
申请日期：
2006-04-27
申请人：
新加坡科技研究局;伊利诺斯器械工程公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	微冲击测试设备
申请号	CN200680001560.2	申请日期	2006-04-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-12-19	公开/公告号	CN101091109
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N3/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N3/00 用机械应力测试固体材料的强度特性 G01N3/30 用一次冲击力（用压头在冲击载荷下压印入G01N 3/48）	IPC分类号	G;0;1;N;3;/;3;0查看分类表>
申请人	新加坡科技研究局;伊利诺斯器械工程公司	申请人地址	新加坡新加坡城变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	新加坡科技研究局,伊利诺斯器械工程公司	当前权利人	新加坡科技研究局,伊利诺斯器械工程公司
发明人	蔡国庆;王毅华;拉宙岚江二世
代理机构	北京银龙知识产权代理有限公司	代理人	张敬强

摘要

一种微冲击测试设备，用于测量其上受到冲击的微电子样品的冲击特性。该设备包括容纳待测样品的样品架，和冲击装置。冲击装置包括冲击头、支撑部件、至少一个连接元件和第一挠性弹簧。由于第一挠性弹簧牢固地一端连接到支撑部件，另一端连接到连接元件，所以支撑部件连接到连接元件。至少基本与第一挠性弹簧相同的第二挠性弹簧牢固地一端连接到连接元件，另一端连接到冲击头，以使第一和第二挠性弹簧的端部在其未加载状态形成矩形。冲击头可相对于第一和第二挠性弹簧沿弹簧加载位置和其冲击位置之间的线性线平移移动。样品架与冲击装置对准，以使样本布置在冲击头冲击位置，使冲击头能够在从加载位置释放时沿线性线在从加载位置朝向冲击位置移动后冲击在样品上。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供