用于检测多个电子元件的外观的检测系统及其使用方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200910126196.8
IPC分类号：G01N21/956;G01B11/02
申请日期：
2009-03-05
申请人：
久元电子股份有限公司

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著录项信息

专利名称	用于检测多个电子元件的外观的检测系统及其使用方法
申请号	CN200910126196.8	申请日期	2009-03-05
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-09-08	公开/公告号	CN101825583A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/956 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N21/956 检测物品表面上的图案〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;6;;;G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	久元电子股份有限公司	申请人地址	中国台湾新竹市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	久元电子股份有限公司	当前权利人	久元电子股份有限公司
发明人	汪秉龙;陈桂标;陈信呈;周明澔;倪仁君
代理机构	隆天国际知识产权代理有限公司	代理人	姜燕;陈晨

摘要

一种用于检测多个电子元件的外观的检测系统及其使用方法，该系统包括一转盘模块、一进料模块及一检测模块。该转盘模块具有一底盘结构及一设置于该底盘结构上端的中空透明转盘结构。该进料模块设置于该中空透明转盘结构的一侧，以将所述多个电子元件依序导引至该中空透明转盘结构的上表面。该检测模块具有多组依序环绕该中空透明转盘结构的检测单元，并且每一组检测单元由一用于感测所述多个电子元件的图像感测元件、一用于提取所述多个电子元件的表面图像的图像提取元件及一用于将所述多个电子元件进行分类的分料元件所组成。本发明能通过凹陷空间提取到电子元件的正确图像。该中空透明转盘结构为中空的结构，可大大节省材料的成本。

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