一种低温下材料热膨胀系数的测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201920708898.6
IPC分类号：G01N25/16
申请日期：
2019-05-17
申请人：
中国科学院上海技术物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种低温下材料热膨胀系数的测试装置
申请号	CN201920708898.6	申请日期	2019-05-17
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先） G01N25/16 通过测试热膨胀系数	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;1;6查看分类表>
申请人	中国科学院上海技术物理研究所	申请人地址	上海市虹口区玉田路500号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海技术物理研究所	当前权利人	中国科学院上海技术物理研究所
发明人	王镇;莫德锋;李雪;徐红艳;刘大福;王小坤;范崔
代理机构	上海沪慧律师事务所	代理人	郭英

摘要

本专利公开了一种低温下材料热膨胀系数的测试装置，该装置包括真空腔体(10)、真空腔体底座(6)、真空泵(1)、制冷装置(5)、测温电阻(14)、电容位移传感器(16)、焊接波纹管(8)、五维位移台(7)、可视化窗口(11)、防辐射屏(18)、数据处理和显示模块(12)。待测样品通过制冷装置冷平台支撑并由制冷装置提供冷量。电容位移传感器左右对置于待测样品的两端以测量待测样品的形变量。数据处理和显示模块对装置中各设备进行实时数据采集、数据处理和结果显示。本装置可获得低温下材料的形变量和热膨胀系数，具有测试结构简单、操作方便、测量精度高的特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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